TEM (Transmission Electron Microscopes)

Esistono diversi modelli di TEM / STEM a diverse energie del fascio elettronico che vengono utilizzati in base alla composizione del campione. I modelli da 300 kV / 200 kV hanno una risoluzione più alta con elettroni più penetranti (maggior numero elettroni elasticamente trasmessi).
Pertanto essi vengono utilizzati per materiali inorganici come metalli e compositi ceramici, mentre il modello da 120 kV, con maggiore contrasto, viene adoperato per polimeri e tessuti biologici. La sorgente di elettroni ad emissione di campo (FE) e il correttore di aberrazione sferica sono opzioni fondamentali quando sono richieste prestazioni analitiche avanzate, quali misure a scala nanometrica ed a risoluzione atomica.

Features
Risoluzione spaziale di 0,078 nm per i modelli ad alte performance con correttore per l'aberrazione;
La misura degli elettroni secondari simultanea a quella STEM rivela allo stesso tempo la struttura e la morfologia dei campioni;
Funzionalità analitiche uniche con i nuovi detector EELS, ad elevata risoluzione spaziale, ed EDS, ad alta sensibilità.

Contatto

Richiedi maggiori informazioni
Product Manager
+39 06 5004204
Fax: +39 06 5010389

I nostri partner

Follow us: twitter linkedin facebook
European offices
© LOT Quantum Design 2016