Strumentazione per la preparativa del campione

Hitachi offre dispositivi quali fresatrici a ioni (ion milling) in grado di preparare ampie sezioni trasversali, uno sputter ionico per aumentare la conducibilità dei campioni non conduttivi e sistemi di sample cleaner per ridurre la contaminazione di carbonio che disturba le misure al microscopio elettronico.

Ion Milling Systems
I dispositivi per la fresatura a ioni (ion milling) implementano un fascio di ioni Ar+  per lucidare la superficie del campione al fine di renderla idonea a particolari analisi al microscopio elettronico. La fresatura a ioni può essere eseguita sia lungo la sezione traversale e sia lungo quella orizzontale

  • Fresatura a ioni lungo la sezione trasversale: utilizzata per produrre sezioni trasversali più ampie e non distorte, senza applicare sollecitazioni meccaniche al campione
  • Fresatura a ioni lungo la sezione orizzontale: utilizzata per rimuovere artefatti presenti in superficie e per eseguire la lucidatura finale, dopo aver implementato le tradizionali tecniche di lucidatura meccanica.

Sample Cleaners
Le superfici dei campioni si contaminano inevitabilmente con idrocarburi durante la preparazione o la conservazione dei campioni. Per un'analisi al microscopio elettronico di qualità, è necessario rimuovere questa contaminazione dalle superfici con i dispositivi sample cleaner, che assicurano pulizia adeguata senza arrecare danni ai campioni.

Ion Sputter
Un ion sputter aumenta la conduttività dei campioni non conduttivi per impedire il formarsi di cariche in superficie durante l'osservazione al microscopio elettronico.

ArBlade 5000 effettua la fresatura a ioni, sia lungo la sezione trasversale e sia lungo quella orizzontale per preparare i campioni a seconda dello scopo. La larghezza della sezione trasversale può essere estesa fino a 8 mm per applicazioni che richiedono fresature ad ampia area come per i componenti elettrici.

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