SEM/FE-SEM/Nano-probing

Distribuiamo una larga gamma di SEM Hitachi, da quelli convenzionali che impiegano una sorgente di elettroni termoionica fino ai modelli ad emissione di campo (FE-SEM) per le alte prestazioni, passando per i SEM da banco, portatili, di facile utilizzo e pensati per un'esperienza immediata nel mondo micrometrico. Offriamo anche sistemi Nano-probing, speciali SEM dedicati all'analisi EBAC.

Il SEM da banco offre un'esperienza immediata nel mondo micrometrico, per tutti, e con la comodità del microscopio ottico, senza rinunciare a funzionalità come l'analisi chimica EDX.
Grazie alla modalità basso vuoto è possibile osservare prontamente anche i campioni non conduttivi, senza previo rivestimento metallico.

TM 4000
L'innovativa serie TM4000 dispone di tecnologie all'avanguardia che ridefiniscono le capacità di un SEM da banco. Questa nuova generazione di microscopi di lunga data della Hitachi integra facilità d'uso con un'alta qualità delle immagini, pur mantenendo il design compatto dei consolidati SEM da banco Hitachi.

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FlexSEM 1000 II combina caratteristiche tecnologiche innovative con un'interfaccia intuitiva, per offrire adattabilità e flessibilità in un pacchetto decisamente performante, automatizzato e adatto ad ogni laboratorio. La tecnologia e i circuiti all'avanguardia offrono immagini senza pari, anche a pressione variabile, una funzionalità precedentemente disponibile solo nei  SEM di dimensioni standard. Questo microscopio elettronico ottimizza i consumi per potersi considerare uno strumento analitico economico, ma senza compromettere le prestazioni.

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Con l'adozione della sorgente di elettroni ad emissione di campo ad alta luminosità, il FE-SEM può focalizzare maggiormente il fascio di elettroni rispetto al SEM convenzionale, che impiega una sorgente termoionica, e quindi può ottenere una risoluzione più elevata. Le immagini sono nitide anche a bassa tensione per consentire un'analisi più dettagliata della microstruttura superficiale del campione. Sono disponibili varie combinazioni di sorgenti di elettroni ed ottiche in base al campione e all'applicazione.

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I sistemi Nano-probing accoppiano il SEM a dei nanoprobes (“fibre ottiche affusolate in punte nanometriche”) per la caratterizzazione elettrica e l'analisi EBAC (Electron Beam Absorbed Current) dei dispositivi a semiconduttore. Il SEM ad alta risoluzione con sorgente di elettroni FE ad alta luminosità consente un funzionamento intuitivo ed un controllo preciso delle sonde.

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