Microscopio ottico a scansione in campo vicino (SNOM)

Nella microscopia ottica a scansione in campo vicino (SNOM), un fascio laser viene focalizzato su un’apertura dal diametro inferiore alla lunghezza d’onda del laser, producendo un campo evanescente (o campo vicino) sul lato opposto dell’apertura stessa. Se il campione viene scansionato a piccola distanza sotto l’apertura, la risoluzione ottica del segnale trasmesso o riflesso è limitata solo dal diametro dell’apertura. La superficie del campione viene dunque scansionata sotto l’apertura e la luce trasmessa o riflessa viene acquisita punto per punto e linea per linea al fine di generare l’immagine ottica. L’apertura è posizionata all’apice di una piramide cava posta all’estremità di un cantilever. La risoluzione spaziale così ottenibile è dell’ordine dei 50-100nm.

Nella microscopia ottica classica la risoluzione è limitata dalla diffrazione a causa della natura ondulatoria della luce. Dunque risoluzioni dell’ordine di circa lambda/2 non sono in genere raggiungibili. La tecnologia SNOM invece è in grado di superare tale limitazione e genare immagini ottiche con risoluzione tipica dell’ordine di 50-100nm (ovvero fino a lambda/10). Tale tecnica inoltre richiede una minima e comunque non invasiva preparativa del campione. Grazie ai sensori SNOM a cantilever basati su tecnologia brevettata WITec, è possibile acquisire immagini con risoluzione ben oltre il limite di diffrazione in maniera semplice e veloce.

Applicazioni tipiche della tecnologia SNOM si trovano in ambito di ricerca nanotecnologica con particolare riferimento ai settori della nano-fotonica e nano-ottica. In scienza dei materiali e scienze biologiche lo SNOM permette di caratterizzare le più piccole strutture superficiali di campioni sia trasparenti che opachi. In combinazione con tecniche di fluorescenza, la tecnologia SNOM rende inoltre possibile la caratterizzazione di singole molecole.

Il sistema alpha300 S è un microscopio ottico a scansione in campo prossimo (SNOM) che combina i vantaggi della tecnica SNOM con quelli della microscopia confocale e AFM in un singolo strumento, estremamente versatile e di facile utilizzo. Il passaggio da una modalità di misura all'altra avviene tramite semplice rotazione della torretta porta-obiettivi. L'alpha300 S utilizza un'esclusiva tecnologia a cantilever per i sensori SNOM che garantisce un'impareggiabile riproducibilità e facilità di utilizzo, garantendo allo stesso tempo una risoluzione spaziale ben al di là del limite di diffrazione ottica.

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Il sistema alpha300 RS combina in un unico strumento tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R e alpha300 S, eseguendo sia misure di Imaging Raman Confocale che misure di microscopia ottica in campo prossimo (SNOM) e microscopia AFM. La combinazione delle due tecniche Raman-SNOM consente inoltre di eseguire esperimenti sofisticati di Imaging Raman ad altissima risoluzione (oltre il limite di diffrazione ottica) quali ad esempio misure di Raman Imaging in campo prossimo (nearfield-Raman imaging).

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