Microscopi combinati

The AFSEM system enables you to combine the possibilities of your SEM with the capabilities of an atomic force microscopy (AFM). The AFSEM is compatible with most SEM and FIB/SEM systems on the market and can easily added to your system. Due to the unique design of the AFSEM™ system it will not interfere with other methods of your system (e.g. FIB, FEBID, EDX) but will add information regarding the structure of your sample.

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Il microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ridefinire gli standard per questa tipologia di strumentazione combinata. L'alpha300 RA somma alle caratteristiche del sistema di Imaging Raman confocale alpha300 R quelle del microscopio AFM alpha300 A, formando un'unico e flessibile strumento capace di imaging chimico ad alta risoluzione e caratterizzazione topografica di superficie su scala nanometrica.

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Il microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura sulla micro- e nano-scala. Attrevarso la combinazione di queste tre tecniche, è possibile eseguire una vasta gamma di sofisticati esperimenti che includono misure simultanee Raman-AFM, TERS, Nearfield-Raman (Raman-SNOM) e molto altro ancora.

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Il sistema alpha300 RS combina in un unico strumento tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R e alpha300 S, eseguendo sia misure di Imaging Raman Confocale che misure di microscopia ottica in campo prossimo (SNOM) e microscopia AFM. La combinazione delle due tecniche Raman-SNOM consente inoltre di eseguire esperimenti sofisticati di Imaging Raman ad altissima risoluzione (oltre il limite di diffrazione ottica) quali ad esempio misure di Raman Imaging in campo prossimo (nearfield-Raman imaging).

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