Un microscopio AFM da integrare su microscopi e profilometri ottici

Nanosurf LensAFM

Il LensAFM della Nanosurf è un microscopio a forza atomica che può essere integrato al posto di un normale obiettivo su un qualsiasi microscopio o profilometro ottico, permettendo di espandere enormemente le potenzialità di misura e la risoluzione di questi strumenti. LensAFM infatti non fornisce solamente informazioni topografiche 3D della superficie del campione, ma, come tutti i microscopi AFM, permette di avere accesso anche a diverse altre proprietà fisiche e meccaniche del campione sotto esame.

Features
Integrabile con qualsiasi microscopio ottico o profilometro ottico 3D di grado scientifico
Dotato di lente interna ad alta apertura numerica per una corretta visualizzazione del campione e del cantilever AFM
Dotato di motore interno integrato per un approccio automatico del cantilever
Ampio range in Z (22 micron) che permette l’analisi di strutture spesse e ad alta rugosità
Supporta tutte le modalità AFM standard (contatto, tapping, phase contrast, lateral force, EFM, MFM, etc…)
Misure di rugosità
Analisi di difetti
Misura di altezza di gradini e micro/nano-strutture
Step heights
Analisi delle proprietà dei materiali: Variazioni di durezza, Proprietà conduttive/resistive, Proprietà magnetiche
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