Microscopio AFM automatizzato per applicazioni industriali e di routine

Nanosurf NaniteAFM

Le dimensioni estremamente compatte della testa di scansione del NaniteAFM ne fanno un microscopio a forza atomica ideale per applicazioni in cui è richiesta integrazione all’interno di sistemi automatizzati, industriali e non.

Con una risoluzione in Z ben al disotto del nanometro, NaniteAFM è in grado di misurare strutture e proprietà superficiali estremamente piccole. La facilità di integrazione e utilizzo, associata ad una ampia disponibilità di modalità di misura permettono di avere accesso ad un’ampia gamma di informazioni e caratteristiche del campione sotto esame che spesso non emergono in una normale caratterizzazione topografica.

NaniteAFM è lo strumento ideale per il controllo di qualità in ambiti quali l’ingegneria di precisione, industria dei semiconduttori, ottimizzazione dei processi di produzione, etc…

Features
Integrabile
Compatto
Robusto
Videocamera digitale ad alta risoluzione integrata (per visualizzazione simultanea laterale e dall’alto)
Ampia possibilità di automazione

Sistemi sviluppati ad-hoc su richiesta del cliente

Oltre ai sistemi AFM standard per ricerca e controllo industriale, Nanosurf offre anche la possibilità di sviluppare sistemi AFM “custom” progettati in funzione delle specifiche necessità del cliente. Un team dedicato di specialisti, ingegneri e tecnici è a disposizione per discutere con il cliente le specifiche applicazioni e sviluppare la soluzione ottimale per ogni richiesta.

Analisi automatizzata di superfici
Controllo Qualità
Ottimizzazione di processi di produzione
Semiconduttori
Follow us: twitter linkedin
European offices
© LOT Quantum Design 2016