Microscopi a forza atomica (AFM)
I microscopi a forza atomica (AFM) riproducono la topografia superficiale dei campione sotto esame con una risoluzione sub-nanometrica attraverso la registrazione delle forze di interazione tra la superficie stessa e una punta montata all'estremità di una micro-leva. Un AFM è in grado di fornire informazioni spaziali sia parallele che perpendicolari alla superficie, consentendo dunque una ...
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I microscopi a forza atomica (AFM) riproducono la topografia superficiale dei campione sotto esame con una risoluzione sub-nanometrica attraverso la registrazione delle forze di interazione tra la superficie stessa e una punta montata all'estremità di una micro-leva. Un AFM è in grado di fornire informazioni spaziali sia parallele che perpendicolari alla superficie, consentendo dunque una ricostruzione 3D della superficie del campione. In aggiunta alle informazioni topografiche ad alta risoluzione, gli AFM consentono di investigare proprietà meccaniche locali del campione (quali ad esempio rigidezza, elasticità, etc...) attraverso l'analisi delle forze di interazione punta-campione. Quantum Design fornisce una vasta gamma di microscopi AFM in grado di coprire applicazioni in diverse aree di ricerca, dalla scienza dei materiali alla biofisica.
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