Microscopi a forza atomica (AFM)

I microscopi a forza atomica (AFM) riproducono la topografia superficiale dei campione sotto esame con una risoluzione sub-nanometrica attraverso la registrazione delle forze di interazione tra la superficie stessa e una punta montata all’estremità di una micro-leva. Un AFM è in grado di fornire informazioni spaziali sia parallele che perpendicolari alla superficie, consentendo dunque una ricostruzione 3D della superficie del campione. In aggiunta alle informazioni topografiche ad alta risoluzione, gli AFM consentono di investigare proprietà meccaniche locali del campione (quali ad esempio rigidezza, elasticità, etc…) attraverso l’analisi delle forze di interazione punta-campione. LOT-QD fornisce una vasta gamma di microscopi AFM in grado di coprire applicazioni in diverse aree di ricerca, dalla scienza dei materiali alla biofisica.

access is a micro-Raman single-spot analysis and mapping microscope. It was specifically engineered for budget-conscious customers with high demands on instrument performance. Its outstanding spectral quality, optical throughput and signal sensitivity are ensured by well-established WITec optical elements.

The high-quality microscope setup of the access is also the basis for its full upgradability. Whenever needed, access can be easily and quickly adapted to new requirements. Customized solutions for e.g. scan stages, spectrometers, cameras and lasers can be added and even advanced Raman techniques can be integrated.

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Il LensAFM della Nanosurf è un microscopio a forza atomica che può essere integrato al posto di un normale obiettivo su un qualsiasi microscopio o profilometro ottico, permettendo di espandere enormemente le potenzialità di misura e la risoluzione di questi strumenti. LensAFM infatti non fornisce solamente informazioni topografiche 3D della superficie del campione, ma, come tutti i microscopi AFM, permette di avere accesso anche a diverse altre proprietà fisiche e meccaniche del campione sotto esame.

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NaioAFM è un microscopio a forza atomica ideale per misure routinarie di campioni di piccola taglia e per l’utilizzo in ambito di didattica avanzata. Questo microscopio AFM “all-in-one” garantisce performance robuste, dimensioni compatte, un’eccellente risoluzione ed una estrema facilità di utilizzo. Il tutto ad un prezzo alla portata di qualsiasi budget.

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Le dimensioni estremamente compatte della testa di scansione del NaniteAFM ne fanno un microscopio a forza atomica ideale per applicazioni in cui è richiesta integrazione all’interno di sistemi automatizzati, industriali e non.

Con una risoluzione in Z ben al disotto del nanometro, NaniteAFM è in grado di misurare strutture e proprietà superficiali estremamente piccole. La facilità di integrazione e utilizzo, associata ad una ampia disponibilità di modalità di misura permettono di avere accesso ad un’ampia gamma di informazioni e caratteristiche del campione sotto esame che spesso non emergono in una normale caratterizzazione topografica.

NaniteAFM è lo strumento ideale per il controllo di qualità in ambiti quali l’ingegneria di precisione, industria dei semiconduttori, ottimizzazione dei processi di produzione, etc…

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Grazie alla continua attenzione per lo sviluppo da parte di Nanosurf, FlexAFM è oggi il più versatile e flessibile microscopio a forza atomica da ricerca disponibile sul mercato, in grado di eseguire una grande varietà di misure differenti in maniera semplice ad affidabile. Indipendentemente se vuoi operare in aria o in liquido, eseguire misure di topografia o operare in modalità avanzate (EFM, MFM, KPFM, etc…), su sample stage dedicati o su microscopi ottici invertiti, FlexAFM ti permette sempre di trovare la configurazione più appropriata alle tue esigenze.
In combinazione con Il nuovo controller allo stato dell’arte C3000, FlexAFM garantisce livelli di accuratezza mai raggiunti sinora.

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Uno strumento multi-funzione per analisi su singola cellula, nanopatterning e nanolitografia
Il FluidFM è uno strumento unico nel suo genere che combina le potenzialità della nanofluidica con l’accuratezza e sensibilità di un microscopio a forza atomica (in particolare il FlexAFM Nanosurf) aprendo così le porte ad un livello completamente nuovo di controllo e manipolazione per applicazioni in ambito di biologia di singola cellula (e non solo) finora non accessibili.

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Alpha300 A è un microscopio a forza atomica (AFM) estremamente versatile integrato con un microscopio ottico di grado scientifico che garantisce un'eccellente accesso ottico al campione e al cantilever, facilitando le operazioni di allenamento e di ispezione ad altissima risoluzione.

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Il microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ridefinire gli standard per questa tipologia di strumentazione combinata. L'alpha300 RA somma alle caratteristiche del sistema di Imaging Raman confocale alpha300 R quelle del microscopio AFM alpha300 A, formando un'unico e flessibile strumento capace di imaging chimico ad alta risoluzione e caratterizzazione topografica di superficie su scala nanometrica.

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Il microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura sulla micro- e nano-scala. Attrevarso la combinazione di queste tre tecniche, è possibile eseguire una vasta gamma di sofisticati esperimenti che includono misure simultanee Raman-AFM, TERS, Nearfield-Raman (Raman-SNOM) e molto altro ancora.

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