Dr. Stefano Schutzmann, PhD

Direttore Tecnico & Product Manager

LOT-QuantumDesign

Laureato in Fisica presso l'Università di Tor Vergata di Roma, PhD. Material for environmental and energy

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Fax: +39 06 5010389

Prodotto

High-throughput bright field and fluorescence scanner
High-throughput bright-field scanner
Spin coater per applicazioni di laboratorio
Sistema micro-Raman
Sistema di Imaging Raman Confocale ad altissima risoluzione
Sistema combinato Raman-AFM
Sistema combinato Raman-SNOM
Sistema "all-in-one" Raman, AFM e SNOM
Basic Confocal Raman Microscope
Sistema di caratterizzazione di superfici alla nanoscala
Microscopio combinato SNOM, confocale e AFM
Sistema di profilometria su larga area per Raman Imaging topografico
Sistema combinato per Imaging Raman e Microscopia Elettronica a Scansione (Raman-SEM)
Sistema automatizzato per Raman Imaging 3D
Ellissometro spettroscopico VUV-VASE
Ellissometro FTIR IR-VASE
Ellissometro Spettroscopico T-Solar per celle solari al Silicio
Ellissometro Spettroscopico veloce M-2000
Ellissometro Spettroscopico da banco Alpha-SE
Ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante RC2
In-situ spectroscopic ellipsometer iSE
Ellissometro spettroscopico VASE
Nanoindentatore NanoTest Vantage
Nanoindentatore in vuoto NanoTest Xtreme
Nanoindenter NanoTest CORE Range
Short introduction: nanoindentation
Sistema di misura di stress per film sottili Flexus FLX
Profilometri FP per campioni di grandi dimensioni
Un microscopio AFM da integrare su microscopi e profilometri ottici
5-channel Surface Plasmon Resonance (SPR) system
3-channel Surface Plasmon Resonance (SPR) system
Short introduction: Ellipsometry
Microscopio AFM per didattica universitaria e applicazioni di routine
Microscopio AFM automatizzato per applicazioni industriali e di routine
Microscopio a Forza Atomica versatile per applicazioni in Scienza dei Materiali e Bio
Sistema di micromanipolazione ed esperimenti su singola cellula
Next generation hemispherical analyzer
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) turn-key solutions
A cost effective concept for lower temperatures scanning probe microscopy
Low temperature ultra-high vacuum (UHV) scanning tunneling microscope (STM) and atomic force microscope (AFM)
Ultimate nanoprobing at low temperatures
Molecular beam epitaxy (MBE) systems
The scanning tunneling microscope (STM)
Benchmarking UHV scanning tunneling microscopy (STM) and AFM technology
Sistema di caratterizzazione per Nanotubi al Carbonio
Sistema di diagnostica delle proprietà nanomeccaniche di tessuti

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